[PDF]
http://dx.doi.org/10.3952/lithjphys.45612
Open access article / Atviros prieigos straipsnis
Lith. J. Phys. 45, 463–469 (2005)
NUMERICAL MODELLING OF THE
ELECTRIC FIELD IN THE SEMICONDUCTOR OBSTACLE PLACED IN THE
COAXIAL LINE
Ž. Kancleris, V. Tamošiūnas, and M. Tamošiūnienė
Semiconductor Physics Institute, A. Goštauto 11, LT-01108
Vilnius, Lithuania
E-mail: kancleris@pfi.lt
Received 7 July 2005
In this paper, we present FDTD
(finite-difference time-domain) simulation results of the averaged
electric field in the semiconductor obstacle placed in the coaxial
line. Such layout might be used as a sensing element for the
measurement of microwave pulsed power transmitted through the
coaxial line. Calculations have been performed for 50 Ω impedance
coaxial line filled with air and obstacle made of Si. The
dependences of averaged electric field in the obstacle on the
microwave frequency, as well as on the height of the obstacle are
considered. Situations when the obstacle is placed either on the
inner or on the outer conductor of the coaxial line have been
investigated.
Keywords: obstacle in the coaxial line, sensor, FDTD method
PACS: 41.20.-q, 07.50.Hp
ELEKTRINIO LAUKO
PUSLAIDININKINĖJE KLIŪTYJE, KURI YRA BENDRAAŠĖJE LINIJOJE,
SKAITMENINIS MODELIAVIMAS
Ž. Kancleris, V. Tamošiūnas, and M. Tamošiūnienė
aPuslaidininkių fizikos institutas, Vilnius, Lietuva
bKembridžo universiteto Šiuolaikinės fotonikos
ir elektronikos centras, Kembridžas, Jungtinė Karalystė
cKembridžo universiteto Medžiagotyros ir
metalurgijos departamentas, Kembridžas, Jungtinė Karalystė
Baigtinių skirtumų laiko skalėje metodu (FDTD)
ištirtos elektrinio lauko puslaidininkinėje (Si) kliūtyje,
esančioje bendraašėje linijoje, priklausomybės nuo dažnio f
skirtingo aukščio h kliūtims. Ištirti du atvejai: (i)
kliūtis patalpinta ant vidinio laidininko paviršiaus, (ii) kliūtis
– ant išorinio laidininko. Tirta bendraašė linija tarp išorinio ir
vidinio laidininkų užpildyta oru, jos banginė varža buvo lygi 50
Ω. Bendraašės linijos vidinio laidininko spindulys ri
= 2 mm, o išorinio – ro = 4, 6 mm. Kliūties
aukštis h buvo matuojamas linijos spindulio kryptimi.
Silicio, iš kurio pagaminta kliūtis, santykinė dielektrinė skvarba
ε = 11, 9. Nors bendraaše linija sklinda reguliari banga,
turinti tik Er ir Hφ
dedamąsias, kliūties aplinkoje susižadina visos elektromagnetinio
lauko dedamosios, kurios ir buvo skaičiuojamos visoje
modeliuojamoje bendraašės linijos atkarpoje su kliūtimi.
Apskaičiuotos elektrinio lauko stiprio vertės buvo normuotos į
elektrinio lauko stiprio vertę ant vidinio laidininko paviršiaus
tuščioje bendraašėje linijoje. Elektrinio lauko stiprio
priklausomybės nuo dažnio f (f vertės kito nuo 1
iki 12 GHz) apskaičiuotos, kai kliūties aukščio h vertės
kito nuo 0,5 iki 2,6 mm. Kai kliūties, kurios savitoji varža ρ
= 30 Ω·cm, aukštis padidėja, vidutinė elektrinio stiprio vertė
taip pat padidėja. Kai h = 2, 6 mm, kliūtis užpildo visą
tarpą tarp vidinio ir išorinio laidininkų (spindulio r
kryptimi). Tokiu atveju žemų dažnių juostoje vidutinio elektrinio
lauko stiprio vertės beveik nepriklauso nuo dažnio, tačiau jos
padidėja aukštesniųjų dažnių srityje, kai bendraašėje linijoje
sužadinama ne tik TEM, bet ir TE11 moda. Ribinė normuoto
elektrinio lauko stiprio vertė žemų dažnių srityje apytikriai lygi
0,6 ir ji labai artima vertei, apskaičiuotai idealios kliūties
atveju (0,64).
References / Nuorodos
[1] M. Dagys, Ž. Kancleris, R. Simniškis, E. Schamiloglu, and F.J.
Agee, Resistive sensor: Device for high-power microwave pulse
measurement, IEEE Antennas Propag. Mag. 43(5), 64–79 (2001),
http://dx.doi.org/10.1109/74.979368
[2] R. Beliackas, J. Grigas, A. Orliukas, and V. Shugurov,
Dielectric dispersion in SbSJ crystals, Lithuanian J. Phys. 11(6),
1029–1038 (1971)
[3] V. Tamošiūnas, V. Shugurov, M. Tamošiūnienė, K.F. Berggren, and
L. Knishevskaya, Computation of electric field components and
standing wave coefficient for a wavequide structure with a lowohm
semiconductor plate, Int. J. Infrared Millimeter Waves 21(11),
1831–1835 (2000),
http://dx.doi.org/10.1023/A:1006783819606
[4] V. Tamošiūnas, V. Shugurov, M. Tamošiūnienė, K.F. Berggren, and
L. Knishevskaya, Computation of the reflection coefficient of a
triangular semiconductor prism in a rectangular waveguide, Int. J.
of Infrared and Millimeter Waves 21(7), 1113–1117 (2000),
http://dx.doi.org/10.1023/A:1026404606644
[5] J. Huang, K. Wu, P. Morin, and C. Akyel, Characterization of
highly dispersive materials using composite coaxial cells:
Electromagnetic analysis and wideband measurements, IEEE Trans.
Microwave Theory Tech. 44(5), 770–777 (1996),
http://dx.doi.org/10.1109/22.493931
[6] K.S. Yee, Numerical solution of initial boundary problems
involving Maxwell's equation in isotropic media, IEEE Trans.
Antennas Propag. 14(3), 302–307 (1966),
http://dx.doi.org/10.1109/TAP.1966.1138693
[7] A. Taflove, Computational Electrodynamics. The
Finite-Difference Time-Domain Method (Artech House, Norwood
MA, 1995)
[8] N. Dib, T. Weller, M. Scardelletti, and M. Imparato, Analysis of
cylindrical transmission lines with the finite-difference
time-domain method, IEEE Trans. Microwave Theory Tech. 47(4),
509–512 (1999),
http://dx.doi.org/10.1109/22.754886
[9] Y. Chen, R. Mitra, and P. Harms, Finite different time domain
algorithm for solving Maxwell's equation in rotationally symmetric
geometries, IEEE Trans. Microwave Theory Tech. 44(6),
832–838 (1996),
http://dx.doi.org/10.1109/22.506441