[PDF]
http://dx.doi.org/10.3952/lithjphys.46410
Open access article / Atviros prieigos straipsnis
Lith. J. Phys. 46, 469–474 (2006)
LONGITUDINAL MAGNETORESISTANCE
OF UNIAXIALLY DEFORMED THIN POLYCRYSTALLINE Bi FILMS
R. Tolutis
Semiconductor Physics Institute, A. Goštauto 11, LT-01108
Vilnius, Lithuania
E-mail: tolutis@pfi.lt
Received 23 October 2006
The large longitudinal
magnetoresistance (MR) of high quality uniaxially deformed 1.5 μm
thick polycrystalline bismuth films deposited in vacuum on
non-crystalline substrate and annealed at critical temperatures
was investigated. The experimental results are interpreted on the
basis of polycrystalline Bi thin film model. The data suggest that
in tellurium doped Bi films the influence of uniaxial deformation
on MR can be up to 400%. It was found that strain and compression
cause a considerably different dependence of MR on magnetic field,
which is explained in terms of electron intervalley repopulation
in polycrystalline film crystallites.
Keywords: bismuth, thin films,
magnetoresistance, deformation
PACS: 68.03.Fg, 73.50.Jt
KRYPTINGAI DEFORMUOTŲ PLONŲ
POLIKRISTALINIŲ Bi SLUOKSNIŲ IŠILGINĖ MAGNETOVARŽA
R. Tolutis
Puslaidininkių fizikos institutas, Vilnius, Lietuva
Naujos Bi sluoksnių fizikinių savybių
panaudojimo perspektyvos skatina pastovų domėjimąsi ir jų plonais
sluoksniais, kurių pagrindinis privalumas – labai paprasta ir pigi
jų gamybos technologija ir didelis mechaninis atsparumas.
Stipriuose magnetiniuose laukuose tirta kryptingai deformuotų
aukštos kokybės plonų polikristalinių sluoksnių didelė išilginė
magnetovarža. Sluoksniai buvo pagaminti vakuuminio garinimo ant
amorfinių padėklų būdu, po to juos atkaitinant krizės
temperatūroje, artimoje sluoksnio tirpimo temperatūrai. Tų
sluoksnių kristalitų skersmuo gali pasiekti kelis šimtus mikronų.
Didelė magnetovarža žymi gerą tokių sluoksnių kokybę. Tinkamiausio
atkaitinimo režimu gautų sluoksnių savybės, esant toms pačioms
sąlygoms, yra artimos monokristalinių sluoksnių savybėms.
Sluoksniai buvo deformuojami iki 0,25%, juos tempiant ar
spaudžiant padėklo plokštumoje išilgai magnetinio lauko krypties.
Deformuotų polikristalinių sluoksnių išilginė magnetovarža buvo
skaičiuota, naudojant patobulintą polikristalinio sluoksnio modelį
ir tenzoriaus sandų lygtis. Nustatyta, kad didelis (iki 400%)
išilginės magnetovaržos pokytis turėtų būti stebimas sluoksnį
suspaudus, kai sluoksnio elektrinį laidumą sukelia L elektronai.
Tai galėtų būti stebima Bi sluoksniuose, papildytuose donorine
priemaiša. Sluoksnius tempiant magnetovaržos pokytis nežymus.
Švariame Bi, kai puslaidininkinio sluoksnio elektrinį laidumą
sukelia L elektronai ir T skylės; T skylės žymiai sumažina
magnetovaržą, kartu ir deformacijos poveikį. Tai patvirtina ir
eksperimento rezultatai.
References / Nuorodos
[1] N.B. Brandt, V.A. Kulbachinskii, N.Ya. Minina, and V.D.
Shirokikh, The band structure alterations and threefold transitions
in uniaxial strained Bi1-xSbx alloys, Zh. Eksp. Teor. Fiz. [Sov.
Phys. JETP] 78, 1830-1843 (1980) [in Russian].
[2] R. Požėra and R. Tolutis, Anisotropy of electrical conductivity
in uniaxial strained Bi-Sb films, Fiz. Tverd. Tela (Leningrad) [Sov.
Phys. Solid State] 23, 3366-3371 (1981).
[3] R. Tolutis, Electrical piezoeffect in semicon ducting Bi-Sb
alloys due to anisotropy of electron mobility Phys. Status Solidi B
185, 439-446 (1994).
https://doi.org/10.1002/pssb.2221850214
[4] R. Tolutis and V. Tolutis, Anisotropy of electrical conductivity
in uniaxial deformed thin Bi films, Phys. Status Solidi A 157, 65-73
(1996).
https://doi.org/10.1002/pssa.2211570109
[5] F.Y. Yang, Kai Liu, Kimin Hong, D.H. Reich, P.C. Searson, and
C.L. Chien, Large magnetoresistance of electrodeposited
single-crystal bismuth thin films, Science 284, 1335-1337 (1999).
https://doi.org/10.1126/science.284.5418.1335
[6] R. Tolutis and V. Tolutis, Electrical piezoeffect in thin
polycrystalline Bi films due to shear deformation, Lithuanian J.
Phys. 37, 155-160 (1997).
[7] P.M. Vereecken, L. Sun, P.C. Searson, M. Tanase, D.H. Reich, and
C.H. Chien, Magnetotransport properties of bismuth films on p-GaAs,
J. Appl. Phys. 88, 6529-6535 (2000).
https://doi.org/10.1063/1.1323537
[8] Sunglae Cho, Yunki Kim, L.J. Olafsen, I. Vurgaftman, A.J.
Freeman, G.K.L. Wong, J.R. Meyer, C.A. Hofman, and J.B. Ketterson,
Large magnetoresistance in post-annealed polycrystalline and
epitaxial Bi thin films, J. Magn. Magn. Mater. 239, 201-203 (2002).
https://doi.org/10.1016/S0304-8853(01)00557-1
[9] R.A. Tolutis and S. Balevičius, A study of large
magnetoresistance of thin polycrystalline Bi films annealed at
critical temperature, Phys. Status Solidi A 203, 600-607 (2006).
https://doi.org/10.1002/pssa.200521019
[10] R. Tolutis, V. Tolutis, and S. Balevičius, Transport properties
and structure of thin Bi films prepared at critical substrate and
annealing temperatures, Lithuanian J. Phys. 45, 53-57 (2005).
https://doi.org/10.3952/lithjphys.45107
[11] R. Tolutis, Anisotropic magnetoresistance of thin
polycrystalline Bi1-xSbx films, Lithuanian J. Phys. 43,
353-359(2003).
[12] A. Sutkus and R. Tolutis, The influence of electron scattering
features on the anisotropy of electrical conductivity in deformed
thin Bi and Bi1-xSbx films, Phys. Status Solidi A 173, 417-424
(1999).
https://doi.org/10.1002/(SICI)1521-396X(199906)173:2<417::AID-PSSA417>3.0.CO;2-M
[13] J.W. McClure and K.H. Choi, Energy band model and properties of
electrons in bismuth, Solid State Commun. 21, 1015-1018 (1977).
https://doi.org/10.1016/0038-1098(77)90008-4
[14] I.F.I. Mikhail, O.P. Hansen, and H. Nilsen, Diffusion
thermolectric power of bismuth in non-quantising magnetic fields.
Pseudo-parabolic model, J. Phys. C 13, 1697-1713 (1980).
https://doi.org/10.1088/0022-3719/13/9/016
[15] R. Tolutis, V. Tolutis, J. Novickij, and S. Balevičius,
Negative magnetoresistance of polycrystalline thin Bi1-xSbx alloy
films in quantizing magnetic fields, Semicond. Sci. Technol. 18,
430-433(2003).
https://doi.org/10.1088/0268-1242/18/6/306