[PDF]
http://dx.doi.org/10.3952/lithjphys.47201
Open access article / Atviros prieigos straipsnis
Lith. J. Phys. 47, 175–184 (2007)
KINETIC MODELLING OF a-C:H THIN
FILM CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION ON Si SUBSTRATE
A. Ibenskasa, A. Galdikasa,b, and A.
Grigonisa
aPhysics Department, Kaunas University of
Technology, Studentų 50, LT-51368 Kaunas, Lithuania
E-mail: andiben@merkys.ktu.lt
bDepartment of Physics, Mathematics, and Biophysics,
Kaunas University of Medicine, Eivenių 4, LT-50166 Kaunas,
Lithuania
Received 12 January 2007; revised
21 March 2007
We simulated plasma enhanced
chemical vapour deposition (CVD) of amorphous hydrogenated carbon
(a-C:H) films on c-Si substrate using our new reaction rate model.
Dependences of film deposition rate and mass density on the flux
of atomic hydrogen were calculated for various CH3
fluxes and various ion energies. The calculated curves agree
qualitatively with experimental results. Film deposition rate, as
a function of hydrogen flux, has a maximum, which could be
explained by (i) stabilization of dangling bond (DB) concentration
on the surface and (ii) increased etching at high hydrogen fluxes.
The results of simulation and experiments do not indicate any
significant effect of ion energy variation on hydrogen content in
the film. Detailed analysis of calculated dependences of sp3/sp2
ratio and hydrogen content on ion energy has revealed some
interesting facts. First, the main mechanism of sp3
bond formation is adsorption of CH3 on the surface.
Also, as expected, the content of sp3 declines
at higher ion energies due to graphitization.
Keywords: kinetic model, reaction rate
equations, amorphous hydrogenated carbon, ion energy
PACS: 81.05.Uw, 81.15.Gh, 82.20.-w
a-C:H DANGŲ CHEMINIO NUSODINIMO
IŠ GARŲ FAZĖS ANT Si PADĖKLO KINETIKOS MODELIAVIMAS
A. Ibenskasa, A. Galdikasa,b, A.
Grigonisa
aKauno technologijos universitetas, Kaunas, Lietuva
bKauno medicinos universitetas, Kaunas, Lietuva
Siūlomas naujas reakcijų greičių lygčių
modelis, aprašantis a-C:H dangų cheminį nusodinimą iš garų fazės
(chemical vapour deposition, CVD). Apskaičiuojamos dangos augimo
greičio ir dangos tankio priklausomybės nuo vandenilio atomų
srauto į paviršių, esant skirtingiems CH3 radikalų
srauto tankiams ir skirtingoms jonų energijoms, kokybiškai sutampa
su eksperimentų rezultatais. Manoma, kad dangos augimo greičio
priklausomybė nuo vandenilio srauto turi maksimumą dėl to, kad
laisvų ryšių koncentracija, lemianti CH3 adsorbciją,
nustoja didėti, o ėsdinimas stiprėja. Skaičiavimų ir eksperimentų
rezultatai rodo, kad vandenilio kiekis dangoje beveik nepriklauso
nuo jonų energijos. Išanalizavus apskaičiuotas sp3/sp2
santykio ir vandenilio kiekio priklausomybes nuo jonų energijos,
esant skirtingiems H srautams, padarytos dvi svarbios išvados.
Pirmiausia, pagrindinis sp3 ryšių susidarymo
mechanizmas gali būti angliavandenilių adsorbcija ant paviršiaus,
o ne įtempiai dangos tūryje (subplantacijos mechanizmas). Tai
sutampa su kitų autorių modeliavimo rezultatais. Antra,
pagrindinis sp3 ryšių suirimo mechanizmas –
grafitizacija, vykstanti šiluminėse smailėse, kurias sukuria dangą
bombarduojantys jonai.
References / Nuorodos
[1] J. Robertson, Mater. Sci. Eng. R 37, 129–281 (2002),
http://dx.doi.org/10.1016/S0927-796X(02)00005-0
[2] Y. Lifshitz, S.R. Kasi, and J.W. Rabalais, Phys. Rev. Lett.
62(11), 1290–1293 (1989),
http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevLett.62.1290
[3] C.A. Davis, Thin Solid Films 226, 30–34 (1993),
http://dx.doi.org/10.1016/0040-6090(93)90201-Y
[4] D.R. McKenzie, Rep. Prog. Phys. 59, 1611–1664 (1996),
http://dx.doi.org/10.1088/0034-4885/59/12/002
[5] A. von Keudell, M. Meier, and C. Hopf, Diamond Related Mater. 11,
969–975 (2002),
http://dx.doi.org/10.1016/S0925-9635(01)00553-2
[6] T. Schwarz-Selinger, M. Meier, C. Hopf, A. von Keudell, and W.
Jacob, Vacuum 71, 361–376 (2003),
http://dx.doi.org/10.1016/S0042-207X(02)00764-9
[7] J. Küppers, Surf. Sci. Rep. 22, 249–321 (1995),
http://dx.doi.org/10.1016/0167-5729(96)80002-1
[8] S.-Tong Lee, Mater. Sci. Eng. R 25, 123–154 (1999),
http://dx.doi.org/10.1016/S0927-796X(99)00003-0
[9] J. Robertson, Diamond Related Mater. 12, 79–84 (2003),
http://dx.doi.org/10.1016/S0925-9635(03)00006-2
[10] M. Bilek and D.R. McKenzie, Surf. Coat. Technol. 10,
4345–4354 (2006),
http://dx.doi.org/10.1016/j.surfcoat.2005.02.161
[11] A. von Keudell, Thin Solid Films 402, 1–37 (2002),
http://dx.doi.org/10.1016/S0040-6090(01)01670-4
[12] W. Jacob, J. Nucl. Mater. 337–339, 839–846 (2005),
http://dx.doi.org/10.1016/j.jnucmat.2004.10.035
[13] N.A. Marks, D.R. McKenzie, and B.A. Pailthorpe, Phys. Rev. B 53(7),
4117–4124 (1996),
http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevB.53.4117
[14] H.X. Li, T. Xu, J.M. Chen, H.D. Zhou, and H.W. Liu, Appl. Surf.
Sci. 227(1–4), 364–372 (2004),
http://dx.doi.org/10.1016/j.apsusc.2003.12.013
[15] G.W. Yang and B.X. Liu, Diamond Related Mater. 9,
156–161 (2000),
http://dx.doi.org/10.1016/S0925-9635(00)00187-4
[16] W. Jacob, C. Hopf, and M. Schlüter, Phys. Scripta T124,
32–34 (2005)
[17] J. Ziegler, SRIM & TRIM (2004),
http://www.srim.org
[18] J. Robertson, Diamond Related Mater. 3(4–6), 361–368
(1994),
http://dx.doi.org/10.1016/0925-9635(94)90186-4
[19] A. Grigonis, V. Šablinskas, M. Šilinskas, and D. Tribandis,
Vacuum 75, 261–267 (2004),
http://dx.doi.org/10.1016/j.vacuum.2004.03.006
[20] O. Durand-Drouhin, M. Lejeune, R. Bouzerar, and M. Benlahsen,
Mater. Sci. Semicond. Processing 4, 213–215 (2001),
http://dx.doi.org/10.1016/S1369-8001(00)00097-4