[PDF]     http://dx.doi.org/10.3952/lithjphys.51401
    
    Open access article / Atviros prieigos straipsnis
    
    Lith. J. Phys. 51, 270–275 (2011)
    
    
    ELECTRON TRANSPORT IN
        MODULATION-DOPED InAlAs/InGaAs/InAlAs AND AlGaAs/InGaAs/AlGaAs
        HETEROSTRUCTURES
      J. Požela a, K. Požela a, V. Jucienė a,
      A. Sužiedėlis a, N. Žurauskienė a, and
      A.S. Shkolnik b
      a Semiconductor
        Physics Institute, Center for Physical Sciences and Technology,
        A. Goštauto 11, LT-01108 Vilnius, Lithuania
      E-mail: pozela@pfi.lt
      b Innolume GmbH,
        Konrad-Adenauer-Allee 11, 44263 Dortmund, Germany
        
      Received 14 June 2011; revised 3 November 2011; accepted 1
      December 2011
      
    
    The possibilities of enhancing the
      electron mobility and high-field drift velocity in channels of
      modulation-doped InAlAs/InGaAs and AlGaAs/InGaAs quantum wells by
      tuning interaction of electrons with interface phonons are tested
      and reviewed. A large increase in the mobility is achieved in a
      novel metamorphic In0.7Al0.3As/In0.8Ga0.2As
structure
      with the high InAs content in the InAlAs barrier layer as well as
      in the AlxGa1-xAs/In0.2Ga0.8As
structure
      with the low AlAs content in the AlGaAs barrier layer. An
      enhancement in the electron mobility by inserting thin InAs layers
      into the In0.52Al0.48As/In0.53Ga0.47As
quantum
      well is obtained. The electron drift velocity saturates at high
      electric fields of 1.5–5 kV/cm and achieves a maximal value of 2.5·107 cm/s in the
      InGaAs quantum well with the thin InAs and GaAs inserts.
    
    Keywords: electron
    transport, electron–phonon scattering, InAlAs/InGaAs/InAlAs
    heterostructures, AlGaAs/InGaAs/AlGaAs heterostructures
    PACS: 72.20.Ht, 72.10.Di,
    73.40.Kp, 73.63.Hs
    
    
    ELEKTRONŲ
PERNAŠA
        MODULIUOTAI LEGIRUOTUOSE InAlAs/InGaAs/InAlAs IR
        AlGaAs/InGaAs/AlGaAs DARINIUOSE
    
    J. Požela a, K. Požela
      a, V. Jucienė a, A. Sužiedėlis a,
      N. Žurauskienė a, A.S. Shkolnik b
    
    a Fizinių ir technologijos mokslų
        centro Puslaidininkių fizikos institutas,Vilnius, Lietuva
      b Innolume GmbH,
        Dortmundas, Vokietija
    
    
    Tiriamos ir apžvelgiamos elektronų
      judrio ir dreifo greičio stipriuose elektriniuose laukuose
      padidinimo galimybės moduliuotai legiruotų InAlAs/InGaAs ir
      AlGaAs/InGaAs darinių kvantinėse duobėse, reguliuojant elektronų
      sąveiką su paviršiniais fononais. Judris itin padidėjo naujame
      metamorfiniame In0,7Al0,3As/In0,8Ga0,2As
darinyje
      su didele InAs moline dalimi InAlAs barjero sluoksnyje, taip pat
      AlxGa1-xAs/In0.2Ga0.8As
darinyje
      su maža InAs dalimi AlGaAs barjero sluoksnyje. Taip pat judris
      padidėjo, kai ploni InAs sluoksniai yra įterpti į In0,52Al0,48As/In0,53Ga0,47As
kvantinę
      duobę. Elektronų dreifo greitis įsisotina 1,5–5 kV/cm stiprio
      elektriniuose laukuose ir jo maksimali vertė yra 2,5·107 cm/s InGaAs
      kvantinėse duobėse, turinčiose plonus InAs ir GaAs intarpus.
    
    
    
    References / Nuorodos
      
    [1] B.K. Ridley, Phys. Rev. B 39, 5282 (1989), 
    
      http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevB.39.5282
    [2] R. Haupt and L. Wendler, Phys. Rev. B 44, 1850 (1991), 
    
      http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevB.44.1850
    [3] J. Požela, A. Namajūnas, K. Požela, and V. Jucienė, J. Appl.
    Phys. 81, 1775 (1997), 
    
      http://dx.doi.org/10.1063/1.364033
    [4] M.A. Stroscio and M. Dutta, Phonons
in
      Nanostructures (Cambridge University Press, Cambridge,
    2005), 
    
      http://dx.doi.org/10.2277/0521018056
    [5] J. Požela, K. Požela, and V. Jucienė, Semiconductors 41, 1074 (2007) [Fiz. Tekh.
    Poluprovodn. 41, 1093 (2007), in Russian], 
    
      http://dx.doi.org/10.1134/S1063782607090126
    [6] J. Požela, K. Požela, R. Raguotis, and V. Jucienė,
    Semiconductors 45, 761
    (2011) [Fiz. Tekh. Poluprovodn. 45,
    778 (2011), in Russian], 
    
      http://dx.doi.org/10.1134/S1063782611060212
    [7] D.R. Anderson, N.A. Zakhleniuk, M. Babiker, B.K. Ridley, and
    C.R. Bennet, Phys. Rev. B 63,
    245313 (2001), 
    http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevB.63.245313
    [8] V.A. Kulbachinskii, I.S. Vasil’evskii, R.A. Lunin, G. Galistu,
    A. de Visser, G.B. Galiev, S.S. Shirokov, and V.G. Mokerov,
    Semicond. Sci. Technol. 22,
    222 (2007), 
    
      http://dx.doi.org/10.1088/0268-1242/22/3/009
    [9] G.B. Galiev, I.S. Vasil’evskii, E.A. Klimov, V.G. Mokerov, and
    A.A. Cherechukin, Semiconductors 40,
    1445 (2006) [Fiz. Tekh. Poluprovodn. 40, 1479 (2006), in Russian], 
    
      http://dx.doi.org/10.1134/S1063782606120141
    [10] I.S. Vasil’evskii, G.B. Galiev, E.A. Klimov, V.G. Mokerov, S.S.
    Shirokov, R.M. Imamov, and I.A. Subbotin, Semiconductors 42, 1084 (2008) [Fiz. Tekh.
    Poluprovodn. 42, 1102
    (2008), in Russian], 
    
      http://dx.doi.org/10.1134/S1063782608090145
    [11] V.G. Mokerov, I.S. Vasil’evskii, G.B. Galiev, J. Požela, K.
    Požela, A. Sužiedėlis, V. Jucienė, and Č. Paškevič, Semiconductors 43, 458 (2009) [Fiz. Tekh.
    Poluprovodn. 43, 478
    (2009), in Russian], 
    
      http://dx.doi.org/10.1134/S1063782609040095
    [12] J. Požela, K. Požela, A. Shkolnik, A. Sužiedėlis, V. Jucienė,
    S. Mikhrin, and V. Mikhrin, Phys. Status Solidi C 6, 2713 (2009), 
    
      http://dx.doi.org/10.1002/pssc.200982526
    [13] I.S. Vasil’evskii, G.B. Galiev, Yu. А. Matveev, E.A. Klimov, J.
    Požela, K. Požela, A. Sužiedėlis, Č. Paškevič, and V. Jucienė,
    Semiconductors 44, 898
    (2010) [Fiz. Tekh. Poluprovodn. 44,
    928 (2010), in Russian], 
    
      http://dx.doi.org/10.1134/S1063782610070122
    [14] J. Požela, K. Požela, V. Jucienė, and A. Shkolnik, Semicond.
    Sci. Technol. 26, 014025
    (2011), 
    
      http://dx.doi.org/10.1088/0268-1242/26/1/014025
    [15] J. Požela, K. Požela, V. Jucienė, I.S. Vasil’evskii, G.B.
    Galiev, E.A. Klimov, A. Sužiedėlis, N. Žurauskienė, V. Stankevič, S.
    Keršulis, and Č. Paškevič, Acta Phys. Pol. A 119, 170 (2011), 
    http://przyrbwn.icm.edu.pl/APP/ABSTR/119/a119-2-24.html
    [16] K. Onda, A. Fujihara, A. Vakejima, E. Mizuki, T. Nakayama, H.
    Miyamoto, Y. Ando, and M. Kanamori, IEEE Electron Dev. Lett. 19, 300 (1998), 
    
      http://dx.doi.org/10.1109/55.704406
    [17] H. Zhao, Y.-T. Chen, J.H. Yum, Y. Wang, F. Zhou, F. Xue, and
    J.C. Lee, Appl. Phys. Lett. 96,
    102101 (2010), 
    http://dx.doi.org/10.1063/1.3350893
    [18] M. Dyakonov and M. Shur, Phys. Rev. Lett. 71, 2465 (1993), 
    http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevLett.71.2465
    [19] N. Dyakonova, F. Teppe, J. Łusakowski, W. Knap, M. Levinshtein,
    A.P. Dmitriev, M.S. Shur, S. Bollaert, and A. Cappy, J. Appl. Phys.
    97, 114313 (2005), 
    
      http://dx.doi.org/10.1063/1.1921339
    [20] X. Wallart, B. Pinsard, and F. Mollot, J. Appl. Phys. 97, 053706 (2005), 
    http://dx.doi.org/10.1063/1.1858871
    [21] V. Drouot, M. Gendry, C. Santinelli, P. Victorovitch, G.
    Hollinger, S. Elleuch, and J.-L. Pelouard, J. Appl. Phys. 77, 1810 (1995), 
    http://dx.doi.org/10.1063/1.358879
    [22] M. Tacano, Y. Sugiyama, Y. Takeuchi, and Y. Ueno, J. Electron.
    Mater. 20, 1081 (1991), 
    http://dx.doi.org/10.1007/BF03030211